پژوهشگران دانشگاه ماساچوست به کمک روش‌ هسته‌ای به نام طیف‌سنجی فوتوالکترون اقدام به شناسایی دقیق الیاف پارچه کرده که با پویش سطوح موفق به دریافت اطلاعات الیاف یا مواد تشکیل دهنده آن کردند. 

تکنیک جدید XPS به خاطر اندازه‌گیری با دقت هرچه بیشتر سبب آن شده پلیس برای شناسایی متهمان از این روش دقیق بهره گیرد.

انتهای پیام/