در یکصد و چهل و ششمین و یکصد و چهل و هفتمین استاندارد ملی فناوری نانو با عنوان‌های ” فناوری نانو- نانوساخت – مشخصه‌های کلیدی کنترلی- قسمت ۶-۶ :گرافن- یکنواختی کرنش: طیف سنجی رامان" و "فناوری نانو- نانو ساخت – مشخصه‌های کلیدی کنترلی- قسمت ۱۴-۶ : مواد پایه گرافنی- سطح نقص: طیف سنجی رامان" در اجلاسیه ۱۲۰ کمیته ملی سازمان استاندارد مصوب شد.
هدف از تدوین این قسمت از مجموعه استانداردهای ملی ۱۹۷۵۸، ایجاد یک روش استاندارد شده برای تعیین مشخصه کلیدی کنترلی ساختاری است.
یکنواختی کرنش برای گرافن تک لایه به وسیله طیف سنجی رامان پهنای پیک 2D در طیف رامان، برای محاسبه پارامتر یکنواختی کرنش تحلیل می‌شود که معیار با ارزشی برای کمیت‌سنجی تأثیر تغییرات کرنش در مقیاس نانو بر خواص الکترونیکی لایه است. طبقه‌بندی به سازندگان کمک می‌کند کیفیت مواد خود را طبقه‌بندی کنند تا حد بالایی از عملکرد الکترونیکی گرافن مشخصه‌یابی شده را ارائه دهند و در نتیجه برای مناسب بودن بالقوه کیفیت مواد گرافن برای کاربردهای مختلف تصمیم بگیرند.
استاندارد تجدیدنظر نیز با عنوان "فناوری نانو- مشخصه‌یابی نانولوله‌های کربنی تک‌دیواره با استفاده از طیف‌سنجی فوتولومینسانس فروسرخ نزدیک" نیز تصویب شد.
هدف از تدوین این استاندارد، ارائه رهنمودهایی برای مشخصه‌یابی نانولوله‌های کربنی تک دیواره (SWCNTs ) با استفاده از طیف‌سنجی فوتولومینسانس فروسرخ نزدیک (NIR) است.
استاندارد فناوری نانو با عنوان "فناوری نانوـ رهنمودهایی برای ارزیابی چرخه حیات – کاربرد استاندارد ملی ایران- ایزو ۱۴۰۴۴: سال ۱۳۸۶ برای نانومواد ساخته‌شده" در صد و بیست و یکمین اجلاسیه کمیته ملی فناوری نانو به دبیری دکتر منهاج به تصویب رسید.
به نقل از ستاد نانو، این استاندارد، رهنمودهایی را در مورد کاربرد ارزیابی‌های چرخه حیات (LCA) برای نانومواد ساخته‌شده (MNMs) در چارچوب استاندارد ملی ایران- ایزو ۱۴۰۴۴: سال ۱۳۸۶ ارائه می‌کند. این استاندارد نانومواد تصادفی را پوشش نمی‌دهد. همچنین برای ارزیابی ریسک مبتنی بر چرخه حیات کاربرد ندارد.
ساختار این استاندارد از ساختار استاندارد ملی ایران شماره ۱۴۰۴۴: سال ۱۳۸۶ پیروی می‌کند و مشابه استانداردهای ملی مرتبط نشان‌دهنده مثال‌های گویایی در مورد نحوه کاربرد مراحل مختلف چارچوب LCA است.