به گزارش خبرنگار باشگاه خبرنگاران شیراز، تخت جمشید نخستین اثر تاریخی ایران است که نقوش سنگی آن به روش طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF)آنالیز شد.
روش xrf به عنوان مکمل مطالعات کانی‌شناسی کاربرد زیادی در بررسی‌های مطالعاتی مورد نظر و حفاظت از آثار دارد .
طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF) یک روش آنالیز دستگاهی است که در آن از روش طیف نشری اشعه ایکس برای تجزیه لایه‌های سطحی استفاده می‌شود.
این دستگاه توانایی انجام آنالیز عنصری به‌صورت کیفی و نیمه کمی نمونه‌های معدنی مانند: نمونه‌های زمین‌شناسی، کانی‌ها، سنگ‌ها، شیشه، سیمان، سرامیک‌ها، آلیاژهای فلزی و غیره را دارد.
برانگیختگی نمونه در اثر تابش پرتو ایکس موجب انتقال الکترونی در لایه‌های مختلف اتم می‌شود که هر انتقال الکترونی همراه با نشر یک خط طیفی پرتو x است.
طول موج خطوط طیفی نشر شده مبنای تجزیه کیفی عناصر و شدت پرتوها متناسب با فراوانی یا کمیت عناصر موجود در نمونه است.
مدیر اجرایی مجموعه تخت جمشید، گفت: در این روش که با یک دستگاه پرتابل و قابل حمل انجام شد، به جای انتقال نمونه های سنگ به مکان آزمایشگاهی برای تحلیل عنصری کانی های سنگ و شناخت طیف و کمیت عناصر، نمونه ها در مکان اصلی خود و در مجموعه تخت جمشید بدون کوچکترین آسیبی بررسی شد.
علیرضا عسگری با بیان اینکه در تخت گاه تخت جمشید، کاوشهای باستان شناسی زیادی انجام شده است افزود: آنچه ضرورت دارد مطالعه، بازنگری و مانیتورینگ مرمت ها و همچنین بررسی وضعیت آسیب پذیری نقوش سنگی تخت جمشید است.
وی افزود: تا کنون بیش از 200 نمونه آزمایش در تخت جمشید انجام شده اما به کار گیری این مواد و طیف مرمت و حفاظت نقوش در مقیاس گسترده تر ، به نتایج آزمایشات تکمیلی و مواد مرمتی به کار گرفته شده نیاز دارد.
این فصل از کاوش در چارچوب برنامه های مطالعات و همکاری های مشترک هیأت های ایرانی و ایتالیایی، پایگاه میراث جهانی پارسه- پاسارگاد و واحدحفاظت و مرمت مجموعه تخت جمشید، در بخش پژوهش های میدانی انجام شد./ب